特許
J-GLOBAL ID：201703016661131294
幾何検証装置及びプログラム
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
阪本 清孝
, 田邉 壽二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-058703
公開番号（公開出願番号）：特開2017-174105
出願日： 2016年03月23日
公開日（公表日）： 2017年09月28日
要約：
【課題】エピポーラ幾何モデルを生成したサンプル、当該生成モデル又は当該生成モデルに基づくインライアの妥当性を評価する幾何検証装置を提供する。【解決手段】第一評価部22は、サンプル点対応によって対応している第1画像の特徴点の配置関係と第2画像の特徴点の配置関係との、所定の幾何モデルを考慮した整合を評価することにより、所定の幾何モデルのパラメータを計算することなく、サンプル点対応の妥当性を評価する。第二評価部24は、生成モデルに用いた第1画像の特徴点座標のエピポールを基準とした配置と、第2画像の特徴点座標のエピポールを基準とした配置と、の整合を評価することにより生成モデルを評価する。第三評価部26は、第二評価部24の整合評価を判定されたインライアを加えて実施することで、インライアの妥当性を評価する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
第1画像の特徴点と第2画像の特徴点との間で同一対象の同一点に該当しうるものとして対応関係を与えて得られた点対応の全部のうちより所定個数が抽出されたサンプル点対応を用いて、当該サンプル点対応における前記第1画像の特徴点の座標と前記第2画像の特徴点の座標との関係をエピポーラ幾何モデルで表現する行列並びに前記第1画像の第1エピポール及び前記第2画像の第2エピポールを求めるモデル生成部と、
前記得られた点対応の全部のうち、前記行列によるエピポーラ幾何モデルを適用した際のエピポーラ線と点との距離が小さいと判定されるインライアを求めるモデル検証部と、
前記インライアの各々に対して、前記第1画像における当該インライアの座標及び前記サンプル点対応の座標の前記第1エピポールを基準とした第1配置と、前記第2画像における当該インライアの座標及び前記サンプル点対応の座標の前記第2エピポールを基準とした第2配置と、の整合を評価することにより、当該インライアの妥当性を評価する第三評価部と、を備えることを特徴とする幾何検証装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (8件)：
5L096AA06
, 5L096EA27
, 5L096FA03
, 5L096FA09
, 5L096FA66
, 5L096FA67
, 5L096FA69
, 5L096JA11
