特許
J-GLOBAL ID：201703016916953838
半導体装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
家入 健
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-038227
公開番号（公開出願番号）：特開2014-163917
特許番号：特許第6182329号
出願日： 2013年02月28日
公開日（公表日）： 2014年09月08日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 複数の機能回路と、
前記複数の機能回路に電源電圧を供給する電源供給配線網と、
外部に接続される他の部品と前記電源供給配線網とを接続する第1と第2のパッドと、
前記第1と第2のパッド毎に設けられたモニタポイントの電圧をモニタして、前記電源供給配線網の異常を検査する第1と第2の電源検査回路と、
前記第1と第2の電源検査回路による検査結果を格納する結果格納レジスタと、
を有し、
前記第1と第2の電源検査回路の両方が異常を示す場合は、前記複数の機能回路を停止させ、
前記第1と第2の電源検査回路の一方が異常を示す場合は、前記複数の機能回路の動作を継続させ、
前記複数の機能回路は、通常モードと低速モードとを有する第1と第2の機能回路を含み、
前記第1の機能回路は前記第1のパッドの近傍に配置され、前記第2の機能回路は前記第2のパッドの近傍に配置され、
前記第1の電源検査回路が異常を示し、かつ前記第2の電源検査回路が正常を示す場合は、前記第1の機能回路を前記低速モードで動作させ、前記第2の機能回路を前記通常モードで動作させる半導体装置。
IPC (3件)：
G01R 31/28 ( 200 6.01)
, H01L 21/822 ( 200 6.01)
, H01L 27/04 ( 200 6.01)
G01R 31/28 V
, H01L 27/04 T
