特許
J-GLOBAL ID：201703017002866950
X線分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
吉本 力
, 新宅 将人
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-110011
公開番号（公開出願番号）：特開2014-228474
特許番号：特許第6127717号
出願日： 2013年05月24日
公開日（公表日）： 2014年12月08日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 試料にX線を照射するためのX線源と、
複数の検出素子を有し、試料において回折したX線を各検出素子で検出する検出器と、
前記X線源及び前記検出器を、試料を中心とする基準円上で相対移動させて分析を行うための移動分析機構とを備え、
前記複数の検出素子の各検出面が、前記基準円に沿って円弧上に位置しており、
前記複数の検出素子を相対移動させることにより、前記複数の検出素子の各検出面が位置する円弧の曲率を変更するための円弧曲率変更機構と、
前記X線源及び前記検出器を相対移動させることにより、試料に対する前記X線源及び前記検出器の距離を同一に保ちながら、前記基準円の径を変更するための基準円変更機構とをさらに備え、
前記円弧曲率変更機構は、前記基準円変更機構により前記基準円の径を変更させるのに対応させて、変更された前記基準円の曲率に対応するように、前記複数の検出素子の各検出面が位置する円弧の曲率を変更することを特徴とするX線分析装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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