特許
J-GLOBAL ID：201703017513824635
状態監視装置及び状態監視方法
発明者：
,
,
,
,
,
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人栄光特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-115346
公開番号（公開出願番号）：特開2017-219469
出願日： 2016年06月09日
公開日（公表日）： 2017年12月14日
要約：
【課題】機械設備に組み込まれた回転部品に対し、異常部位の特定、損傷の程度又は損傷の進展状況の判断、及び異常部位の残存寿命の予測ができる状態監視装置及び状態監視方法を提供する。【解決手段】転がり軸受11又はハウジングに固定される振動センサ12と、振動センサ12により検出された波形を複数の損傷フィルタ周波数帯域に分割して抽出するフィルタ処理部と、フィルタ処理後の波形からスペクトルデータを得る演算処理部と、転がり軸受11の回転速度に基づいて算出した軸受損傷周波数と、演算処理部で得られたスペクトルデータとを比較し、転がり軸受11の異常部位を特定する精密診断部と、損傷フィルタ周波数帯域毎に算出される振動実効値に基づいて、異常部位の損傷の程度を診断する損傷レベル診断部と、異常部位、異常部位の損傷の程度、及び回転部品の運転環境から異常部位の残存寿命を予測する残存寿命予測部と、を備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
静止部材に対して相対的に回転する回転部品の状態を監視する状態監視装置であって、
前記回転部品又は前記静止部材に固定される振動センサと、
前記振動センサにより検出された信号の波形を複数の損傷フィルタ周波数帯域に分割して抽出するフィルタ処理部と、
前記フィルタ処理部から転送されたフィルタ処理後の波形をエンベロープ処理及び周波数分析を行い、スペクトルデータを得る演算処理部と、
前記抽出された損傷フィルタ周波数帯域において、前記回転部品の回転速度信号に基づいて算出した前記回転部品の損傷に起因する軸受損傷周波数と、前記演算処理部で得られたスペクトルデータに含まれる周波数成分とを比較し、前記回転部品の異常の部位を特定する精密診断部と、
前記損傷フィルタ周波数帯域毎に算出される周波数帯域別診断値に基づいて、前記部位の損傷の程度を診断する損傷レベル診断部と、
前記異常の部位、該部位の損傷の程度、及び前記回転部品の運転環境から前記異常の部位の残存寿命を予測する残存寿命予測部と、
を備えることを特徴とする状態監視装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (10件)：
2G024AC01
, 2G024BA12
, 2G024BA21
, 2G024BA22
, 2G024BA27
, 2G024CA13
, 2G024DA09
, 2G024FA04
, 2G024FA06
, 2G024FA15
