特許
J-GLOBAL ID：201703017873655397

粒子成分分析装置

発明者：
松添 雄二

松添 雄二 について


出願人/特許権者：
富士電機株式会社

富士電機株式会社 について


代理人 (1件)： 龍華国際特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-055397
公開番号（公開出願番号）：特開2017-167110
出願日： 2016年03月18日
公開日（公表日）： 2017年09月21日
要約：
【課題】捕捉体を用いて粒子を捕捉する粒子分析装置において、照射光源および光学部品などの高価な部品が不要とする。【解決手段】測定対象となるエアロゾル中の粒子を捕捉する捕捉体と、捕捉体に配置されて、捕捉体を加熱して捕捉体に捕捉された粒子を脱離させて脱離成分を生じさせるヒータと、脱離成分に基づいて粒子の成分および量の少なくとも一方を分析する分析器と、を備える粒子成分分析装置を提供する。粒子成分分析装置によれば、照射光源および光学部品などの高価な部品が不要とする。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
測定対象となるエアロゾル中の粒子を捕捉する捕捉体と、 前記捕捉体に配置されて、前記捕捉体を加熱して前記捕捉体に捕捉された粒子を脱離させて脱離成分を生じさせるヒータと、 前記脱離成分に基づいて粒子の成分および量の少なくとも一方を分析する分析器と、 を備える粒子成分分析装置。
IPC (3件)：
G01N 15/00 ,  G01N 1/02 ,  G01N 15/06
FI (3件)：
G01N15/00 C ,  G01N1/02 D ,  G01N15/06 D
Fターム (22件)：
2G052AA04 ,  2G052CA02 ,  2G052CA03 ,  2G052CA04 ,  2G052DA05 ,  2G052DA22 ,  2G052EA04 ,  2G052EA05 ,  2G052EA08 ,  2G052EA11 ,  2G052EA14 ,  2G052EA17 ,  2G052EB01 ,  2G052EB02 ,  2G052EB11 ,  2G052EB13 ,  2G052ED01 ,  2G052GA21 ,  2G052HA17 ,  2G052HC04 ,  2G052HC22 ,  2G052JA06
引用特許：
審査官引用 (6件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM