ナノ粒子成分計測装置

発明者： , , , , ,
出願人/特許権者： , ,
代理人 (1件)：酒井宏明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-069656
公開番号（公開出願番号）：特開2009-222660
出願日： 2008年03月18日
公開日（公表日）： 2009年10月01日
要約：

【課題】ナノ粒子組成が精度良く且つ高感度に計測できるナノ粒子成分計測装置を提供する。【解決手段】ナノ粒子成分計測装置10Aは、計測ガス11である排ガス中のナノ粒子を計測するナノ粒子成分計測装置であって、計測ガス11中のナノ粒子成分を分級する静電分級器12と、前記静電分級器12により帯電したナノ粒子を濃縮する帯電粒子濃縮部14と、前記濃縮したナノ粒子の成分を計測する質量分析装置16とを具備してなり、前記帯電粒子濃縮部14が、前記ナノ粒子に第1の電場を形成する第1の電極と、第1の電場により集中したナノ粒子をさらに濃縮する第1の電場よりも高い電圧の第2の電場を形成する第2の電極とを具備してなるものである。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

排ガス中のナノ粒子を計測するナノ粒子成分計測装置であって、計測ガス中のナノ粒子成分を分級する静電分級器と、前記静電分級器により帯電したナノ粒子を濃縮する帯電粒子濃縮部と、前記濃縮したナノ粒子の成分を計測する計測装置とを具備してなり、前記帯電粒子濃縮部が、前記ナノ粒子に第1の電場を形成する第1の電極と、第1の電場により集中したナノ粒子をさらに濃縮する第1の電場よりも高い電圧の第2の電場を形成する第2の電極とを具備してなることを特徴とするナノ粒子成分計測装置。

IPC (3件)：

G01N 1/22 , G01N 27/60 , G01N 1/02

FI (4件)：

G01N1/22 G , G01N27/60 C , G01N1/02 D , G01N1/02 K

Fターム (25件)：

2G041BA02 , 2G041BA18 , 2G041CA01 , 2G041DA03 , 2G041EA07 , 2G041FA07 , 2G041GA06 , 2G041GA14 , 2G041GA17 , 2G052AA02 , 2G052AC20 , 2G052AD04 , 2G052AD24 , 2G052AD35 , 2G052AD42 , 2G052BA03 , 2G052BA22 , 2G052CA03 , 2G052CA11 , 2G052EA03 , 2G052EB01 , 2G052EB02 , 2G052EB11 , 2G052ED01 , 2G052GA24

引用特許：

出願人引用 (1件)

粒子中の化学成分測定方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2003-006945 出願人：財団法人電力中央研究所

審査官引用 (9件)

電気移動度分級装置及び微粒子成分の計測システム
公報種別：公開公報出願番号：特願2005-254044 出願人：三菱重工業株式会社, 財団法人電力中央研究所
ガス分析装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2006-069014 出願人：株式会社日立ハイテクコントロールシステムズ
粒子中の化学成分測定方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2003-006945 出願人：財団法人電力中央研究所

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