特許

J-GLOBAL ID：201703017918725944

データ抽出装置、データ抽出方法およびデータ抽出プログラム

発明者： 長光 左千男 ,  長岡 直人
出願人/特許権者： 学校法人同志社
代理人 (1件)： 特許業務法人みのり特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-216762
公開番号（公開出願番号）：特開2017-016991
出願日： 2015年11月04日
公開日（公表日）： 2017年01月19日
要約：

【課題】測定データから電池劣化の診断に適したデータを抽出することが可能なデータ抽出装置を提供する。【解決手段】記憶部2と、記憶部2に格納された電流測定データから二次電池の過渡応答データを抽出する抽出部3と、を備えたデータ抽出装置1であって、抽出部3は、電流値の変化量が第1閾値以上となる第1区間を特定する第1処理と、第1区間の始点の電流値に対する変化量が第2閾値以下となる前区間を特定する第2処理と、第1区間の終点の電流値に対する変化量が第3閾値以下となる後区間を特定する第3処理と、前区間の始点から後区間の終点までの電流値データを過渡応答データとして抽出する第4処理と、を実行することを特徴とする。【選択図】図5

請求項（抜粋）：

過渡応答特性を有する二次電池の電流値を所定のサンプリング間隔で測定した電流測定データを格納する記憶部と、 前記記憶部に格納された前記電流測定データから前記二次電池の過渡応答時の過渡応答データを抽出する抽出部と、 を備えたデータ抽出装置であって、 前記抽出部は、 電流値の変化量が第1閾値以上となる第1区間を特定する第1処理と、 前記第1区間の始点と連続し、前記始点の電流値に対する変化量が前記第1閾値よりも小さい第2閾値以下となる前区間を特定する第2処理と、 前記第1区間の終点と連続し、前記終点の電流値に対する変化量が前記第1閾値よりも小さい第3閾値以下となる後区間を特定する第3処理と、 前記前区間の始点から前記後区間の終点までの電流値データを前記過渡応答データとして抽出する第4処理と、を実行する ことを特徴とするデータ抽出装置。

IPC (4件)：

H01M 10/48 ,  G01R 31/36 ,  H01M 10/44 ,  H02J 7/00

FI (4件)：

H01M10/48 P ,  G01R31/36 A ,  H01M10/44 P ,  H02J7/00 Y

Fターム (30件)：

2G216AB01 ,  2G216AB05 ,  2G216BA02 ,  2G216BA07 ,  2G216BA21 ,  2G216BA23 ,  2G216BA35 ,  2G216BA54 ,  2G216BA59 ,  2G216CA07 ,  2G216CB13 ,  2G216CB32 ,  2G216CB34 ,  2G216CB41 ,  2G216CB55 ,  5G503BB02 ,  5G503CA01 ,  5G503CA11 ,  5G503EA08 ,  5H030AA01 ,  5H030AA10 ,  5H030AS03 ,  5H030AS06 ,  5H030AS08 ,  5H030BB01 ,  5H030BB21 ,  5H030FF22 ,  5H030FF42 ,  5H030FF43 ,  5H030FF44