特許
J-GLOBAL ID：201703018688371877
漏洩磁束法における評価方法
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (5件)：
小野 新次郎
, 小林 泰
, 竹内 茂雄
, 山本 修
, 北来 亘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-246074
公開番号（公開出願番号）：特開2017-111023
出願日： 2015年12月17日
公開日（公表日）： 2017年06月22日
要約：
【課題】従来の漏洩磁束法が抱える課題を解決する評価方法を提供する。【解決手段】同一の所定の材料からなり異なる板厚を有する複数の試験片を磁化するステップと、前記複数の試験片のそれぞれについて、磁化電流の値及び漏洩磁束密度信号の値を計測するステップと、前記磁化電流の値及び漏洩磁束密度信号の値に基き、前記複数の試験片のそれぞれについて、磁化電流-漏洩磁束密度の波形を作成するステップと、前記磁化電流-漏洩磁束密度の波形に基き、マスターカーブを作成するステップと、前記マスターカーブを使用して、前記所定の材料からなる被検体を評価するステップとを有する、漏洩磁束法における評価方法。【選択図】図8
請求項（抜粋）：
漏洩磁束法における評価方法において、
同一の所定の材料からなり異なる板厚を有する複数の試験片を磁化するステップと、
前記複数の試験片のそれぞれについて、磁化電流の値及び漏洩磁束密度信号の値を計測するステップと、
前記磁化電流の値及び漏洩磁束密度信号の値に基き、前記複数の試験片のそれぞれについて、磁化電流-漏洩磁束密度の波形を作成するステップと、
前記磁化電流-漏洩磁束密度の波形に基き、マスターカーブを作成するステップと、
前記マスターカーブを使用して、前記所定の材料からなる被検体を評価するステップとを有する、評価方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (6件)：
2G053AA02
, 2G053AA11
, 2G053AB22
, 2G053BB11
, 2G053BC18
, 2G053CA01
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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