特許
J-GLOBAL ID:201703019335615469

ピエゾ抵抗素子及び半導体センサ

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 伊東 忠重 ,  伊東 忠彦
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-002770
公開番号(公開出願番号):特開2014-135391
特許番号:特許第6155648号
出願日: 2013年01月10日
公開日(公表日): 2014年07月24日
請求項(抜粋):
【請求項1】 第1の不純物を含む第1導電型の半導体基板と、 前記半導体基板に埋め込まれた、第2の不純物を含む第2導電型のピエゾ抵抗層と、 前記半導体基板の表面と前記ピエゾ抵抗層との間に形成された、第3の不純物を含む前記第1導電型のバリア層と、を備え、 前記第2の不純物の濃度が前記第1の不純物の濃度以上となる領域を前記ピエゾ抵抗層と定義し、前記第3の不純物の濃度が前記第1の不純物の濃度以上となる領域を前記バリア層と定義した場合に、前記ピエゾ抵抗層と前記バリア層とは、前記半導体基板の厚さ方向に所定の層幅の重なりを有し、 前記第3の不純物の濃度の最大値は、前記第2の不純物の濃度の最大値よりも大きいピエゾ抵抗素子。
IPC (1件):
H01L 29/84 ( 200 6.01)
FI (2件):
H01L 29/84 B ,  H01L 29/84 A
引用特許:
出願人引用 (4件)
全件表示
審査官引用 (4件)
全件表示

前のページに戻る