特許
J-GLOBAL ID：201703019901000221

硫黄含有高分子複合材料における架橋密度の測定方法

発明者：
金子 房恵

金子 房恵 について

, 
岸本 浩通

岸本 浩通 について


出願人/特許権者：
住友ゴム工業株式会社

住友ゴム工業株式会社 について


代理人 (1件)： 特許業務法人 安富国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-138963
公開番号（公開出願番号）：特開2017-020906
出願日： 2015年07月10日
公開日（公表日）： 2017年01月26日
要約：
【課題】硫黄を含有する高分子複合材料における架橋密度について、詳細な情報が高精度に得られる評価方法を提供する。【解決手段】硫黄含有高分子複合材料における架橋密度を測定する方法であって、該測定方法は、前記硫黄含有高分子複合材料に、高輝度X線を照射し、X線のエネルギーを変えながらX線吸収スペクトルを測定する測定工程、前記X線吸収スペクトルからリバースモンテカルロ法により硫黄含有高分子複合材料中の硫黄の三次元構造を特定する可視化工程、及び、前記硫黄の三次元構造から硫黄の各結合数に対する架橋密度を算出する算出工程を含み、前記可視化工程において、硫黄及び架橋点部分の炭素の情報に基づいて前記リバースモンテカルロ法を実施する。【選択図】なし
請求項（抜粋）：
硫黄含有高分子複合材料における架橋密度を測定する方法であって、 該測定方法は、前記硫黄含有高分子複合材料に、高輝度X線を照射し、X線のエネルギーを変えながらX線吸収スペクトルを測定する測定工程、 前記X線吸収スペクトルからリバースモンテカルロ法により硫黄含有高分子複合材料中の硫黄の三次元構造を特定する可視化工程、及び、 前記硫黄の三次元構造から硫黄の各結合数に対する架橋密度を算出する算出工程 を含み、 前記可視化工程において、硫黄及び架橋点部分の炭素の情報に基づいて前記リバースモンテカルロ法を実施することを特徴とする架橋密度の測定方法。
IPC (2件)：
G01N 23/087 ,  G01N 23/06
FI (2件)：
G01N23/087 ,  G01N23/06 310
Fターム (8件)：
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001BA13 ,  2G001CA01 ,  2G001GA01 ,  2G001KA01 ,  2G001LA05 ,  2G001NA08
引用特許：
出願人引用 (4件)
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