特許
J-GLOBAL ID:201703019960074654
周波数解析装置、当該周波数解析装置を用いた信号処理装置、および、当該信号処理装置を用いた高周波測定装置
発明者:
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出願人/特許権者:
,
代理人 (5件):
吉田 稔
, 田中 達也
, 仙波 司
, 鈴木 泰光
, 臼井 尚
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-042923
公開番号(公開出願番号):特開2014-081352
特許番号:特許第6173721号
出願日: 2013年03月05日
公開日(公表日): 2014年05月08日
請求項(抜粋):
【請求項1】 入力されるアナログ信号に対してサンプリングを行って、サンプリングデータを生成するサンプリング手段と、
前記サンプリングデータを、対象とする周波数に対応したサンプリングデータであるリサンプリングデータに変換するデータ変換手段と、
前記リサンプリングデータに対して高速フーリエ変換処理を行って周波数毎の変換結果を出力するFFT処理手段と、
前記サンプリングデータに対して高速フーリエ変換処理を行って周波数毎の変換結果を出力する第2のFFT処理手段と、
前記第2のFFT処理手段が出力する周波数毎の変換結果に基づいて、前記対象とする周波数を推定する周波数推定手段と、
を備え、
前記周波数推定手段は、
前記第2のFFT処理手段が出力する変換結果の大きさであるスペクトルパワーが最大値になる場合の周波数である近似周波数を検出する検出手段と、
前記近似周波数に周波数分解能を加算した周波数についてのスペクトルパワーと、前記近似周波数から前記周波数分解能を減算した周波数についてのスペクトルパワーとを比較する比較手段と、
前記最大値に対する、前記比較手段によって大きいと判定された方のスペクトルパワーの比率を算出する比率算出手段と、
を備えており、
前記比率算出手段によって算出された比率に基づいて、前記対象とする周波数を推定する、
ことを特徴とする周波数解析装置。
IPC (1件):
FI (1件):
引用特許:
審査官引用 (3件)
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周波数分析方法及び周波数分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-226027
出願人:株式会社日立ビルシステム
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特開昭59-000632
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高調波成分測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2010-261185
出願人:横河メータ&インスツルメンツ株式会社
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