特許
J-GLOBAL ID:201703020473361123
座標測定機
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
田村 敬二郎
, 小林 研一
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-026231
公開番号(公開出願番号):特開2014-153341
特許番号:特許第6181935号
出願日: 2013年02月14日
公開日(公表日): 2014年08月25日
請求項(抜粋):
【請求項1】 目盛りが形成された定規と、
前記定規に対して相対移動し、前記定規の目盛りを読み出す位置センサと、
前記定規及び位置センサのうち一方に連結され、前記定規及び位置センサのうち他方が取り付けられた基盤に対して移動可能となっている移動体と、
前記移動体に取り付けられてなり、被測定物の表面に接触するかあるいは前記被測定物にたいして一定の隙間まで近づいたことを検知することで接触と同様の働きをなすようになっているタッチプローブと、
前記移動体のピッチング、ヨーイング、ローリングのいずれか2つにおける傾き角を検出する姿勢センサとを有し、
前記タッチプローブの変位を前記位置センサの出力から読み取ることが出来、前記姿勢センサからの出力に基づいて、前記目盛りを読み取るべき位置と実際に読み取られる位置との差を加味して前記位置センサの出力を補正することにより被測定物の形状を求めることを特徴とする座標測定機。
IPC (3件):
G01B 21/20 ( 200 6.01)
, G01B 21/22 ( 200 6.01)
, G01B 21/00 ( 200 6.01)
FI (3件):
G01B 21/20 C
, G01B 21/22
, G01B 21/00 E
引用特許:
出願人引用 (7件)
-
変位測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-308907
出願人:株式会社ミツトヨ
-
特許第3531882号
-
運動誤差測定基準及び運動誤差測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2006-273908
出願人:株式会社小坂研究所
-
測定装置、測定基準及び精密工作機械
公報種別:公開公報
出願番号:特願2006-231631
出願人:清野慧
-
被測定面の測定方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-168986
出願人:清野慧, 株式会社小坂研究所
-
座標測定器用の校正装置
公報種別:公表公報
出願番号:特願平9-511267
出願人:ブラウン・アンド・シャープ・マニュファクチャリング・カンパニー
-
形状測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2010-165731
出願人:株式会社ミツトヨ
全件表示
審査官引用 (7件)
-
変位測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-308907
出願人:株式会社ミツトヨ
-
特許第3531882号
-
運動誤差測定基準及び運動誤差測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2006-273908
出願人:株式会社小坂研究所
-
測定装置、測定基準及び精密工作機械
公報種別:公開公報
出願番号:特願2006-231631
出願人:清野慧
-
被測定面の測定方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-168986
出願人:清野慧, 株式会社小坂研究所
-
座標測定器用の校正装置
公報種別:公表公報
出願番号:特願平9-511267
出願人:ブラウン・アンド・シャープ・マニュファクチャリング・カンパニー
-
形状測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2010-165731
出願人:株式会社ミツトヨ
全件表示
前のページに戻る