特許
J-GLOBAL ID：201703020579803605

誤り率測定装置および該装置の自動補正方法

発明者：
南 昂孝

南 昂孝 について

, 
山根 一浩

山根 一浩 について


出願人/特許権者：
アンリツ株式会社

アンリツ株式会社 について


代理人 (2件)： 西村 教光 ,  鈴木 典行
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-068615
公開番号（公開出願番号）：特開2017-184022
出願日： 2016年03月30日
公開日（公表日）： 2017年10月05日
要約：
【課題】装置本体にイコライザを組み込んだ誤り率測定装置を提供する。【解決手段】誤り率測定装置1は、パターン送信部2とパターン受信部3を備える。パターン送信部2は、パターン信号と反転パターン信号をパルスパターン発生部21から発生する。パターン受信部3は、オフセット調整部31A,31Bと、CTLE33A1,33A2を含むイコライザ33を備える。パターン送信部2とパターン受信部3とを接続し、パルスパターン発生部21からオフセット調整部31A,31Bに信号が入力されていない状態でオフセット調整部31A,31Bに所定のオフセット電圧を与え、イコライザ33に入力される制御電圧Vcを調整して直流ゲインを測定し、測定した直流ゲインと設定したゲインとが一致したときの制御電圧Vcと直流ゲインとの関係を示す直流ゲインテーブルを作成する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
被測定物のビット誤り率を測定するための所定のパターン信号と該パターン信号の位相を反転した反転パターン信号とを発生するパルスパターン発生部(21)を含むパターン送信部(2)と、 前記パターン送信部から入力されるパターン信号と反転パターン信号に対して直流電圧によるオフセット電圧を付与してオフセット調整するオフセット調整部(31A,31B)と、該オフセット調整部にてオフセット調整された前記パターン送信部からのパターン信号と反転パターン信号による差動入力の高周波成分を維持しつつ低周波数域の周波数特性を変えるCTLE(33A1,33A2)を含むイコライザ(33)と、前記イコライザへの差動入力の直流電圧を検波する入力側直流検波部(32)と、前記イコライザからの差動出力の直流電圧を検波する出力側直流検波部(34)と、前記イコライザからの差動出力のエラーを測定するエラー測定部(35)とを含むパターン受信部(3)とを備えた誤り率測定装置(1)であって、 前記パターン送信部と前記パターン受信部とを接続し、前記パルスパターン発生部から前記オフセット調整部に信号が入力されていない状態で前記オフセット調整部に所定のオフセット電圧を与え、前記イコライザに入力される制御電圧を調整して直流ゲインを測定し、測定した直流ゲインと設定したゲインとが一致したときの制御電圧と前記直流ゲインとの関係を示す直流ゲインテーブルを作成することを特徴とする誤り率測定装置。
IPC (3件)：
H04L 1/00 ,  H04B 3/04 ,  H04B 3/46
FI (3件)：
H04L1/00 C ,  H04B3/04 A ,  H04B3/46
Fターム (4件)：
5K014GA02 ,  5K014GA03 ,  5K046EE42 ,  5K046EE46
引用特許：
審査官引用 (3件)

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