特許

J-GLOBAL ID：201703021015644961

測定装置

発明者： 大西 謙一 ,  山本 憲次 ,  三木 正之 ,  内山 直樹
出願人/特許権者： 株式会社リベックス
代理人 (1件)： 森脇 正志
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-028523
公開番号（公開出願番号）：特開2014-025913
特許番号：特許第6071614号
出願日： 2013年02月18日
公開日（公表日）： 2014年02月06日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 コイルおよび該コイルに対する被検出物の位置の変化に応じて前記コイルとの重合部の体積が変化するように配置された導電体,又は,コイルおよび該コイルに対する被検出物の位置の変化に応じて前記コイルとの重合部の体積が変化するように配置された磁性体からなるセンサ部(10)と、前記コイルを含んで直列回路を構成するコンデンサ(3)および抵抗(4)と、前記直列回路に入力電圧Viを印加する電圧印加手段(5)と、前記コンデンサ(3)または前記抵抗(4)の両端電圧Voを検出する電圧検出手段(5)と、前記両端電圧Voの位相を検出する位相検出手段(5)と、前記両端電圧Voの大きさを検出する大きさ検出手段(5)と、前記位相と前記大きさと前記センサ部(10)の環境温度と前記被検出物の位置とを対応付けた特徴データ(51)と、前記両端電圧Voを実測して検出した前記位相と前記大きさをパラメータとして前記特徴データ(51)を基に前記センサ部(10)の環境温度と前記被検出物の位置とを算出する演算手段(5)とを具備したことを特徴とする測定装置。

IPC (4件)：

G01D 21/02 ( 200 6.01) ,  G01B 7/00 ( 200 6.01) ,  G01D 5/20 ( 200 6.01) ,  G01K 7/36 ( 200 6.01)

FI (4件)：

G01D 21/02 ,  G01B 7/00 101 E ,  G01D 5/20 J ,  G01K 7/36 A

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 位置検出器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-066597   出願人：株式会社リベックス
• 特開昭64-068626