特許
J-GLOBAL ID：201703021455287818
プローブ、表皮電位測定装置、表皮電位測定方法、美容方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
杉村 憲司
, 神 紘一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-106831
公開番号（公開出願番号）：特開2017-209452
出願日： 2016年05月27日
公開日（公表日）： 2017年11月30日
要約：
【課題】本発明は、無痛針を適度な深さで刺入することで、低侵襲な表皮電位測定を可能にする、プローブ、表皮電位測定装置、表皮電位測定方法、美容方法を提供することを目的とする。【解決手段】外径0.003〜0.4mm、長さ0.2〜40mmの中空針を含み、中空針において先端と末端とが塩橋により連絡されている、プローブ、該プローブを含む表皮電位測定装置、該表皮電位測定装置を用いる表皮電位測定方法、該表皮電位測定装置を用いる美容方法。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
外径0.003〜0.4mm、長さ0.2〜40mmの中空針を含み、前記中空針において先端と末端とが塩橋により連絡されていることを特徴とする、プローブ。
IPC (4件)：
A61B 5/00
, A61N 1/20
, A61B 5/047
, A61B 5/049
A61B5/00 M
, A61N1/20
, A61B5/04 300H
4C053FF01
, 4C053FF04
, 4C117XA01
, 4C117XB01
, 4C117XB13
, 4C117XD05
, 4C117XD11
, 4C117XE20
, 4C127AA01
, 4C127LL07
