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J-GLOBAL ID:201802210047078558   整理番号:18A1358366

反応性DCマグネトロンスパッタリングにより高速で蒸着したNbドープTiO_2薄膜の電気抵抗率に及ぼすエージング効果【JST・京大機械翻訳】

Ageing effects on electrical resistivity of Nb-doped TiO2 thin films deposited at a high rate by reactive DC magnetron sputtering
著者 (10件):
資料名:
巻: 455  ページ: 267-275  発行年: 2018年 
JST資料番号: B0707B  ISSN: 0169-4332  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
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金属ターゲットからの反応性DCマグネトロンスパッタリングにより高速度で成長させたNbドープTiO_2薄膜における電気抵抗率の長期安定性について報告した。成長過程での酸素流の活性制御により,高い堆積速度が得られた。膜の微細構造と微結晶の優先配向は,膜成長過程における全作動圧力によって制御される。真空中での熱処理後,膜抵抗は10~3Ωcmの範囲にあり,光透過率は可視領域で80%以上であった。乾燥窒素下で保たれた時,膜は安定であるが,材料が空気に曝されると著しい時効が観察された。この場合,DC抵抗率は着実に増加し,膜を通して破壊する。膜の微細構造の進展と膜表面上の酸素交換によって,時効過程を議論した。大気からの酸素取り込みは浅い表面領域に限定される。この機構は,膜抵抗率の増加に主に寄与する破壊の形成/伝搬を引き起こす可能性がある。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (2件):
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酸化物薄膜  ,  半導体結晶の電気伝導 

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