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J-GLOBAL ID：201802210413623201   整理番号：18A0588825

エネルギーバンドギャップ決定を用いた水中半導体デバイスのための実時間診断システム【Powered by NICT】

Real-time diagnostic system for submerged semiconductor devices using energy band gap determination

著者 (3件)： Saufi N. S. Md. (Physics Kit & Instrumentation Research Group (PhyKiR), Physics Department, Faculty of Science & Mathematics, Universiti Pendidikan Sultan Idris, Sultan Azlan Shah Campus, 35900 Tanjung Malim, Perak, Malaysia) ,  Abdullah N. S. Y. (Physics Kit & Instrumentation Research Group (PhyKiR), Physics Department, Faculty of Science & Mathematics, Universiti Pendidikan Sultan Idris, Sultan Azlan Shah Campus, 35900 Tanjung Malim, Perak, Malaysia) ,  Yaacob M. I. H. (Physics Kit & Instrumentation Research Group (PhyKiR), Physics Department, Faculty of Science & Mathematics, Universiti Pendidikan Sultan Idris, Sultan Azlan Shah Campus, 35900 Tanjung Malim, Perak, Malaysia)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： USYS  ページ： 1-4  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究の目的は,水中動作する種々の半導体デバイスを診断するためのリアルタイム監視システムを開発し,実行することである。システムは半導体デバイスのエネルギーバンドギャップを決定するために接合電圧と電流を測定する。LEDは,半導体デバイスを表現するためにDUTとして採用した。DUTへの電源は水没し,加熱と水中操作条件を模倣するために冷却した。提案したシステムの有効性は,緑色と赤色LEDの既知の値の結果を比較することにより行った。簡単で使いやすいユーザインターフェースを用いて,実験結果を成功裡に測定システムは,エネルギーバンドギャップの信頼性の高いデータを得ることができ,どんな半導体デバイスに適用できることを示した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *半導体素子 ,  電流 ,  *バンドギャップ ,  電圧 ,  信頼性 ,  接合 ,  計測システム ,  ユーザインタフェイス
準シソーラス用語： 赤色LED ,  操作条件 ,  リアルタイムモニタリング ,  *診断システム ,  *実時間 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 半導体薄膜  (BK14040E) ,  半導体結晶の電子構造  (BM02060N)

タイトルに関連する用語 (5件)： エネルギーバンドギャップ ,  水中 ,  半導体デバイス ,  実時間 ,  診断システム