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J-GLOBAL ID：201802212716519197   整理番号：18A0914860

セメント系硬化体の等価回路モデルに及ぼす塩化物イオンの影響

EFFECTS OF CHLORIDE ION ON ELECTRIC EQUIVALENT CIRCUIT MODEL OF HARDENED CEMENTITIOUS MATERIALS

著者 (3件)： 宇内大樹 (いわき市役所 土木部道路管理課(〒970-8686福島県いわき市平字梅本21番地)) ,  佐伯竜彦 (新潟大学 工学部建設学科(〒950-2181新潟県新潟市西区五十嵐2の町8050番地)) ,  斎藤豪 (新潟大学 工学部建設学科(〒950-2181新潟県新潟市西区五十嵐2の町8050番地))
資料名： セメント・コンクリート論文集(Web)  (Cement Science and Concrete Technology (Web))
巻： 71  号： 1  ページ： 295-301(J-STAGE)  発行年： 2017年 
JST資料番号： U1105A  ISSN： 2187-3313  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 電気化学的方法を用いた鋼材腐食の非破壊検査に用いられるコンクリートの等価回路は,塩分の存在によって変化すると考えられる。そこで,モルタル供試体を用いて,塩分の存在が硬化体の等価回路の各成分に及ぼす影響を検討した。 塩水浸漬を行った供試体による検討の結果,細孔溶液が受ける表面電位の影響が大きくなることが示唆された。塩水浸漬を行った供試体の電荷移動抵抗は,浸漬濃度によって異なる結果となり,特に濃度が高い場合に影響が顕著となった。そこで,細孔溶液中の塩化物イオン濃度で補正を行うことで,電荷移動抵抗の評価ができることを明らかにした。(著者抄録)

シソーラス用語： *セメントモルタル ,  *等価回路 ,  *濃度依存性 ,  調合 ,  浸漬試験 ,  細孔構造 ,  間隙水 ,  電気抵抗 ,  電気化学インピーダンス ,  化学組成 ,  アニオン ,  イオン濃度 ,  金属腐食
準シソーラス用語： 塩化物イオン ,  鉄筋腐食 ,  電荷移動抵抗

著者キーワード (10件)： 電気抵抗 ,  電荷移動抵抗 ,  空隙構造 ,  細孔溶液組成 ,  塩害 ,  Electrical resistance ,  Charge transfer resistance ,  Pore structure ,  Pore solution ion composition ,  Chloride attack

分類 (2件)： モルタル,コンクリート  (RA06042H) ,  電気化学反応  (CB07050F)

タイトルに関連する用語 (4件)： セメント系 ,  硬化体 ,  等価回路モデル ,  塩化物イオン