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J-GLOBAL ID：201802213289636039   整理番号：18A0074291

テストスイート簡約のための拡張回帰試験モデル【Powered by NICT】

Extended regression test model for test suite reduction

著者 (1件)： Lawanna Adtha (Department of Information Technology, Science and Technology, Assumption University, Samuthprakarn, Thailand)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： GCCE  ページ： 1-5  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 改正の数はランダムと回帰テスト削減な低減アルゴリズムによって解くことができるを必要とする際に,テストスイートの大きさの問題は,ソフトウェア保守の過程で増加した。それにもかかわらず,全体性能を改善する必要がある。それ故,本研究では,回帰テスト削減,四つのアルゴリズムを添加することにより従来法と比較して最良の結果を保証することを改善するために使用される新しいモデルを提案した;試験,秩序化,削除テストケースと固定むし。,それぞれ約40%と200%より小さいサイズと高いパーセント固定類を与えた。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *簡約化 ,  アルゴリズム ,  プログラムメンテナンス
準シソーラス用語： テストケース ,  *回帰試験 ,  *テストスイート , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 計算機システム開発  (JD02010R)

タイトルに関連する用語 (5件)： テストスイート ,  簡約 ,  拡張 ,  回帰試験 ,  モデル