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J-GLOBAL ID:201802216277349762   整理番号:18A0619355

DCマグネトロンスパッタリングにより成長させたTiCとTiC/Ti薄膜の構造と機械的特性【Powered by NICT】

The structural and mechanical characterization of TiC and TiC/Ti thin films grown by DC magnetron sputtering
著者 (7件):
資料名:
巻: 38  号:ページ: 2886-2892  発行年: 2018年 
JST資料番号: E0801B  ISSN: 0955-2219  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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TiCとTi相とその影響その機械的性質に及ぼすの形成を研究した。薄層は,TiとCターゲットからの超高真空中,室温でのDCマグネトロンスパッタリングにより堆積した。立方晶TiC相(c TiC)at.%Ti含有量58~86から形成された。六方晶Ti(h Ti)の最初の形成はat.%Ti含有量が86から生じた。c TiC at.%Ti含有量が90から消失する。c TiC構造at.%Ti含有量が86の膜を逐次積層欠陥によるH Tiに変態することができる。Ti含有量の増加と共にC TiC(111)集合組織の優位性が観察された。薄膜の硬度は構造観察と一致した。最高硬さ値(~26 GPa)at%Ti含有量が67c TiC薄膜を示した。ナノ硬さ値は70at.%以上のTi量の増加と共に減少する特性を示した。ナノ硬度(~10 GPa)の最低値はH Ti相をもつ薄膜で観察された。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
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セラミック・陶磁器の製造  ,  セラミック・磁器の性質 
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