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J-GLOBAL ID:201802216457440106   整理番号:18A1620731

溶液処理Rbドープ酸化インジウム亜鉛薄膜トランジスタ【JST・京大機械翻訳】

Solution-Processed Rb-Doped Indium Zinc Oxide Thin-Film Transistors
著者 (10件):
資料名:
巻: 39  号:ページ: 1330-1333  発行年: 2018年 
JST資料番号: B0344B  ISSN: 0741-3106  CODEN: EDLEDZ  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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酸化ジルコニウムゲート誘電体とIn-Zn-O(IZO)チャネル堆積を含むルビジウムドープ酸化インジウム亜鉛薄膜トランジスタ(TFT)を溶液プロセスを用いて作製した。RbドープIZO TFTの電気的特性は,Rbドーピングによる結晶性向上のために著しく改善された。最も高い電界効果移動度,オン/オフ電流比,およびサブ閾値勾配に達する最適Rbドーピング濃度を,2モル%のRbドーピング濃度で得た。Liドーピングと比較して,RbドープIZOトランジスタはバイアス応力の下で閾値電圧のより少ない変化を示した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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トランジスタ 
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