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J-GLOBAL ID:201802217151956191   整理番号:18A0525033

血液脳関門(BBB)-皮質内シリコン微小電極インプラントの破壊【Powered by NICT】

Blood brain barrier (BBB)-disruption in intracortical silicon microelectrode implants
著者 (7件):
資料名:
巻: 164  ページ: 1-10  発行年: 2018年 
JST資料番号: C0964B  ISSN: 0142-9612  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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神経組織における慢性的に注入した微小電極は時間変動であることが炎症反応を誘発し,複数の因子に依存することが示されている。これらの因子の中で,血液脳関門(BBB)破壊は電極破壊をもたらす支配的な因子の一つとして仮定されている。BBBと細胞膜破壊を含む一連の事象はミクログリアと星状細胞活性化,出血,浮腫,および神経変性および機能不全を引き起こす炎症誘発性神経毒性サイトカインの放出に関与する複数の生化学的カスケードを誘発することを電極注入中に起こった。典型的には,マイクロワイヤアレイとシリコンプローブは神経組織に徐々に挿入したシリコンユタ州MEA(UMEA)は空気圧インサータを用いた高速で挿入した。本研究では,炎症反応を仲介する重要な遺伝子の発現プロファイルを定量化することによって脳組織に移植したUMEAにおける種々の急性時点で電極インプラント誘導された皮質損傷の後遺症とBBBを形成し,BBBの機能に重要であることを密着結合(TJ)と接着結合(AJ)蛋白質を報告した。著者らの結果は,全ての時間帯に対し未処置の対照と比較してほとんどの炎症誘発性遺伝子のアップレギュレーションを示した。TJとAJを形成する遺伝子の発現レベルは,BBB機能不全を示唆する下方制御された。さらに,刺とインプラント群脳組織におけるUMEA挿入関連外傷の影響を示唆している間に有意な差はなかった。著者らの結果は,UMEAの挿入後の急性時点で神経炎症とBBB破壊に関連する生理的事象への洞察を提供した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (3件):
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神経の基礎医学  ,  医療用機器装置  ,  医用素材 

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