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J-GLOBAL ID：201802217873390560   整理番号：18A0586765

アナログとディジタル回路の最適加速試験領域のための時間依存誘電体絶縁破壊の比較研究【Powered by NICT】

A comparison study of time-dependent dielectric breakdown for analog and digital circuit’s optimal accelerated test regions

著者 (4件)： Yang Kexin (School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA USA) ,  Liu Taizhi (School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA USA) ,  Zhang Rui (School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA USA) ,  Milor Linda (School of Electrical and Computer Engineering, Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA USA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： DCIS  ページ： 1-6  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： だけでなく従来の信頼性懸念,フロントエンドの線絶縁破壊(GTDDB)でなく,新たに出現した摩耗機構中の線(MOL)時間依存絶縁破壊(MTDDB)を研究した。これら機構の最適加速試験条件を提示した,それは各機構の別々の試験条件を含んでいる。回路レベルの加速寿命試験を行うために,最適条件はアナログおよびディジタル回路のための変化し試験を行う前に慎重に考慮する必要がある。最適領域における試験のみは標的摩耗機構の寿命を反映することができた。回路設計者は種々の試験条件は,異なる摩耗機構を検出することによる恩恵を受けるであろう。加速試験は破壊の原因に関する情報を提供し,回路設計者はよりロバストで信頼性のある方法でそれらの回路を再設計するためにこの情報を利用することができる。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *絶縁破壊 ,  回路設計 ,  *アナログ系 ,  *加速試験 ,  ロバスト性 ,  最適条件 ,  *時間依存性 ,  再設計 ,  *誘電体 ,  *ディジタル回路 ,  信頼性
準シソーラス用語： 加速劣化試験 ,  摩耗機構 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  信頼性  (KB04040H)

タイトルに関連する用語 (7件)： アナログ ,  ディジタル回路 ,  加速試験 ,  時間依存 ,  誘電体 ,  絶縁破壊 ,  研究