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J-GLOBAL ID:201802218167954260   整理番号:18A2075347

ボトムホモおよびヘテロInGaAsNサブセルの比較研究による照射誘起欠陥による3J InGaP/InGaAs/InGaAsN太陽電池の劣化解析【JST・京大機械翻訳】

Degradation analysis of 3J InGaP/InGaAs/InGaAsN solar cell due to irradiation induced defects with a comparative study on bottom homo and hetero InGaAsN subcell
著者 (4件):
資料名:
巻: 174  ページ: 728-734  発行年: 2018年 
JST資料番号: E0099A  ISSN: 0038-092X  CODEN: SRENA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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三重接合In_0.49Ga_0.51P/In_0.01Ga_0.99As/In_0.30Ga_0.70As_0.98N_0.02太陽電池における照射誘起トラップの影響を,有限要素解析を用いて研究した。全3J太陽電池構造を,3番目または底部サブセルとして,ホモおよびヘテロInGaAsN構造で別々にシミュレーションした。下部InGaAsNヘテロ構造をもつ高効率3J InGaP/InGaAs/InGaAsN太陽電池を,照射誘起トラップ準位を含めて解析した。トラップ準位は,室温で電子/cm~2において1×10~14~1×10~16のフルエンス範囲で1MeV電子照射に対応した。著者らは,中間細胞におけるトラップがより多くの分解を引き起こし,続いて底部細胞とそれからトップ細胞が続くことを実現した。太陽電池パラメータ(J_sc,V_ocおよびη)の分解の開始は,トラップ濃度1×10~13cm-3で始まり,一方,より多くの分解は1×10~16cm-3を超えて起こる。1×10~16cm~3のトラップ濃度で,太陽電池設計を,サブセル間の電流整合を達成するために最適化した。底部ヘテロ構造を用いて1-太陽(AM0スペクトル)で36%変換効率を得たが,1×10~16cm~3トラップ濃度と104cm/s表面再結合速度の導入は,電流整合後に24.3%に増加した20.8%変換効率をもたらした。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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分類 (1件):
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太陽電池 

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