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J-GLOBAL ID：201802218258177393   整理番号：18A0749205

4分割方式Xバンド単セル型空洞の高電界試験の結果

HIGH-GRADIENT TEST RESULTS ON A QUADRANT-TYPE X-BAND SINGLE-CELL STRUCTURE
著者 (5件)：
ABE Tetsuo

ABE Tetsuo について

(High Energy Accelerator Res. Organization (KEK), Ibaraki, JPN)

High Energy Accelerator Res. Organization (KEK), Ibaraki, JPN について

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TAKATOMI Toshikazu

TAKATOMI Toshikazu について

(High Energy Accelerator Res. Organization (KEK), Ibaraki, JPN)

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HIGO Toshiyasu

HIGO Toshiyasu について

(High Energy Accelerator Res. Organization (KEK), Ibaraki, JPN)

High Energy Accelerator Res. Organization (KEK), Ibaraki, JPN について

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MATSUMOTO Shuji

MATSUMOTO Shuji について

(High Energy Accelerator Res. Organization (KEK), Ibaraki, JPN)

High Energy Accelerator Res. Organization (KEK), Ibaraki, JPN について

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ARAKIDA Yoshio

ARAKIDA Yoshio について

(High Energy Accelerator Res. Organization (KEK), Ibaraki, JPN)

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資料名：
KEK Preprint (Web)  (KEK Preprint (Web))

KEK Preprint (Web) について


号： 2017-38  ページ： WEB ONLY  発行年： 2017年12月 
JST資料番号： U0582A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)
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タイトルに関連する用語
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Xバンド

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単セル

単セル について

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空洞

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高電界

高電界 について

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試験

試験 について


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