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J-GLOBAL ID:201802218289657477   整理番号:18A0623829

しきい値電圧と飽和電流上のAlGaN/GaN MIS FinFETのためのコンパクトな物理モデル【Powered by NICT】

Compact Physical Models for AlGaN/GaN MIS-FinFET on Threshold Voltage and Saturation Current
著者 (3件):
資料名:
巻: 65  号:ページ: 1348-1354  発行年: 2018年 
JST資料番号: C0222A  ISSN: 0018-9383  CODEN: IETDAI  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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AlGaN/GaN MIS FinFETのしきい値電圧とドレイン飽和電流の物理モデルは,GaN MIS FinFETベース設計のためのガイドラインを提供するためにTCADシミュレーションによって確立し,検証した。側壁フィンゲートによる二次元電子ガス(2DEG)チャネルの空乏効果は適切な境界条件を持つPoisson方程式の数値解に基づいてモデル化する。ゲートバイアスによってFermi準位より上の持ち上げられた2DEG領域での伝導バンドはしきい値電圧を得るためにモデル化した。フィン幅の関数としてデバイス飽和電流,2DEGチャネル電流と側壁チャネル電流をもモデル化した。閾値電圧と飽和電流に及ぼす素子設計パラメータの影響を検証を提案したモデルによって解析した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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