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J-GLOBAL ID：201802218902160519   整理番号：18A0195923

適応1ビット測定からの平均推定【Powered by NICT】

Mean estimation from adaptive one-bit measurements

著者 (2件)： Kipnis Alon (Department of Statistics, Stanford University, Stanford, CA) ,  Duchi John C. (Department of Electrical Engineering and Department of Statistics, Stanford University, Stanford, CA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： Allerton  ページ： 1000-1007  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 制約の下での正規分布の平均を推定する問題を考察した:推定量は,この分布から各試料からのみ単一ビットをアクセスできる。試料と1ビット測定の数の関数としてこの推定における二乗誤差リスクを研究した。ステップnに単一ビットは新しい試料と以前の 1得られたビットの両方の関数である適応推定設定を考察した。この設定のために,推定量は分散π/(2n)+O(n~ 2)時間よりも小さい漸近平均二乗誤差を達成できないことを示した。換言すれば,1ビット制限は制限のない場合と比較して少なくともπ/2の因子による推定の規定された精度のために必要な試料の数を増加させた。添加では,この漸近誤差,むしろ驚くべきことに,π/2倍以上の試料のみが無制限の場合と同等で推定性能を達成するために必要とされることを示すを達成することを陽な推定量を提供する。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *推定量 ,  正規分布
準シソーラス用語： 平均二乗誤差 ,  適応推定 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： ロボットの運動・制御  (IC04012J) ,  統計学  (AB08000H) ,  ディジタルフィルタ  (NC04022Z)

タイトルに関連する用語 (4件)： 適応 ,  ビット ,  平均 ,  推定