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J-GLOBAL ID：201802219974651960   整理番号：18A0328939

荷電粒子ビームの位置モニタリングのための光学的回折放射【Powered by NICT】

Optical diffraction radiation for position monitoring of charged particle beams

著者 (12件)： Kieffer R. (CERN, CH-1211 Geneva 23, Switzerland) ,  Bravin E. (CERN, CH-1211 Geneva 23, Switzerland) ,  Lefevre T. (CERN, CH-1211 Geneva 23, Switzerland) ,  Mazzoni S. (CERN, CH-1211 Geneva 23, Switzerland) ,  Bergamaschi M. (John Adams Institute at Royal Holloway, University of London, Egham, Surrey TW20 0EX, United Kingdom) ,  Karataev P. (John Adams Institute at Royal Holloway, University of London, Egham, Surrey TW20 0EX, United Kingdom) ,  Kruchinin K. (John Adams Institute at Royal Holloway, University of London, Egham, Surrey TW20 0EX, United Kingdom) ,  Billing M. (Cornell University, CLASSE, Ithaca, NY, USA) ,  Conway J. (Cornell University, CLASSE, Ithaca, NY, USA) ,  Shanks J. (Cornell University, CLASSE, Ithaca, NY, USA) ,  Terunuma N. (KEK, Tsukuba, Japan) ,  Bobb L. (Diamond Light Source, Oxfordshire, UK)
資料名： Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms  (Nuclear Instruments & Methods in Physics Research. Section B. Beam Interactions with Materials and Atoms)
巻： 402  ページ： 88-91  発行年： 2017年 
JST資料番号： H0899A  ISSN： 0168-583X  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 将来のリニアコライダ協力(CLIC, ILC)の枠組みの中で,非遮断ビーム監視装置は,非常に低いエミッタンスと高い電荷密度ビーム用に開発中である。光回折放射(ODR)はビームサイズ測定に焦点を当てた過去数年間に研究し,開発した。を高分解能でスクレーパ,コリメータとターゲットの中心に対する応用を持つ位置モニタとしての超相対論的ビームの回折放射の使用を考慮するために論文で提案した。はそれぞれ1.2GeVと2.1GeV電子を用いて,KEKで及びコーネル電子貯蔵リング上でのATF2抽出ビームラインに小さな開口スリットを用いて得た実験結果を提示した。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： リニアコライダ ,  ビームライン ,  開口 ,  *電子ビーム ,  エミッタンス ,  光回折 ,  高分解能 ,  ストレージリング ,  ビームモニタリング ,  コリメータ ,  スクレーパ ,  *回折 ,  *監視装置
準シソーラス用語： ビームサイズ ,  電荷密度 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： 光回折放射 ,  非侵襲ビーム装置 ,  ビーム位置モニタ

分類 (1件)： 線形加速器  (BE02030I)

タイトルに関連する用語 (5件)： 荷電粒子ビーム ,  モニタリング ,  光学 ,  回折 ,  放射