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J-GLOBAL ID：201802220648072094   整理番号：18A1899038

ICストリップ線路測定のための放射放出のシミュレーション方法論【JST・京大機械翻訳】

Simulation Methodology of Radiated Emission for IC Stripline Measurements

著者 (8件)： Heuvelman Wilmar (NXP Semiconductors B.V., T&OIAnalog Design Enablernent, Eindhoven, The Netherlands) ,  Janssen Rick (NXP Semiconductors B.V., T&OIAnalog Design Enablernent, Eindhoven, The Netherlands) ,  Kapora Sergei (NXP Semiconductors B.V., T&OIAnalog Design Enablernent, Eindhoven, The Netherlands) ,  Kwaaitaal Stefan (NXP Semiconductors B.V., T&OIAnalog Design Enablernent, Eindhoven, The Netherlands) ,  Rodriguez Erick (NXP Semiconductors B.V., T&OIAnalog Design Enablernent, Eindhoven, The Netherlands) ,  Kuenen Jeroen (NXP Semiconductors B.V., T&OIAnalog Design Enablernent, Eindhoven, The Netherlands) ,  Schulz-Mewes Gunnar (NXP Semiconductors B.V., T&OIAnalog Design Enablernent, Eindhoven, The Netherlands) ,  Axer Philip (NXP Semiconductors B.V., T&OIAnalog Design Enablernent, Eindhoven, The Netherlands)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： EMC Europe  ページ： 366-370  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ICストリップ線路法に基づく集積回路の放射放出をシミュレートするためのシミュレーション方法を提案した。数年以来,車内ネットワークのためのICの開発は,比較的低い周波数制御器エリアネットワーク(CAN)と局所的相互接続ネットワーク(LIN)アプリケーションから,より高い周波数のエーテルネットアプリケーションに向けられている。自動車用途のEMCに関するより高い周波数と厳しい要求により,回路とシステムレベルでのICの放射放出性能を予測する必要がある。この理由のために,単一ICから発生する放射放出を予測できるシミュレーションフローと方法論を開発した。新しい方法を簡単な試験構造で検証し,エーテルネットスイッチ応用ICのICストリップラインでの測定を行った。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 周波数 ,  *ストリップ線路 ,  周波数制御 ,  集積回路 ,  ネットワーク ,  自動車 ,  相互結合網 ,  応用プログラム ,  *シミュレーション ,  エーテル

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (5件)： IC ,  ストリップ線路 ,  放射 ,  放出 ,  シミュレーション方法