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J-GLOBAL ID：201802221747830728   整理番号：18A1043724

加速熱サイクル試験におけるRF同軸スイッチに及ぼすクリープの影響に関する研究【JST・京大機械翻訳】

Study on the Influence of Creep on RF Coaxial Switch in Accelerated Thermal Cycle Test

著者 (3件)： Xu Le (Department of Electrical Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin, China) ,  Ling Sanqiang (Department of Electrical Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin, China) ,  Zhai Guofu (Department of Electrical Engineering, Harbin Institute of Technology, Harbin, China)
資料名： IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing Technology  (IEEE Transactions on Components, Packaging, and Manufacturing Technology)
巻： 8  号： 6  ページ： 966-974  発行年： 2018年 
JST資料番号： W0590B  ISSN： 2156-3950  CODEN： ITCPC8  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 無線周波数(RF)同軸スイッチには,高い伝送周波数と電力容量の利点があり,航空宇宙,通信,軍事,科学,および医療分野で広く使用されている。加速熱サイクル(ATC)試験において,永久変形または変位は,クリープによって引き起こされたRF同軸スイッチの接触システムおよび熱サイクル時間によるRF性能低下において発生した。本論文では,RF同軸スイッチの三次元有限要素モデルを最初に提案した。スイッチが高周波と電力信号を伝送するときの接触システムにおける電力損失を導体損失と誘電損失に分割し,それを別々に計算した。導体損失が電力損失の主要部分であることを示した。次に,接触システムにおける電力損失を熱源とみなし,全スイッチの定常状態温度場をAnsoft HFSSとWorkbenchにより計算した。RF同軸スイッチにおける温度上昇を計算し,実験的試験により検証した。ATC試験におけるRF同軸スイッチの信頼性と動作寿命を予測するために,3つの未決定係数を持つCoffin-Mason法に基づくクリープ構成方程式を構築した。ISO204:2009(引張における金属材料-単軸クリープ試験)によって,クリープ試験のためのベリリウム青銅のサンプルを製造して,種々の温度と応力の条件における2つのグループのクリープ試験を実施して,未決定の係数を得た。最後に,熱サイクル時間による接触システムの応力-歪変形を,クリープ構成方程式に基づいて計算した。接触システムのモデルを再構築し,ATC試験におけるRF同軸スイッチに及ぼすクリープの影響を研究した。本論文で提示した解析方法と結論は,RF同軸スイッチ製品の性能と信頼性を改善するために,重要な理論的有意性と実用的価値を有した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 信頼性 ,  構成方程式 ,  再構成 ,  昇温 ,  *クリープ ,  引張 ,  モデル ,  HF【周波数】 ,  誘電損失 ,  熱源 ,  *スイッチ ,  *熱サイクル ,  電力
準シソーラス用語： 定常状態 ,  電力損失 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (4件)： プリント回路  (NA05040O) ,  混成集積回路  (NC03163K) ,  接続部品  (NA05050Z) ,  固体デバイス製造技術一般  (NC03030V)

タイトルに関連する用語 (5件)： 加速 ,  熱サイクル試験 ,  RF ,  クリープ ,  研究