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J-GLOBAL ID:201802223733365425   整理番号:18A0062115

陰極ルミネセンスによる単一GaAsナノワイヤ中のn型ドーピングレベルの決定

Determination of n-Type Doping Level in Single GaAs Nanowires by Cathodoluminescence
著者 (16件):
資料名:
巻: 17  号: 11  ページ: 6667-6675  発行年: 2017年11月 
JST資料番号: W1332A  ISSN: 1530-6984  CODEN: NALEFD  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 短報  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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SiドープしたGaAsナノワイヤの陰極ルミネセンス(CL)を測定してドーピングレベルを決定した。Hall測定でドーピングレベルが既知であるSiドープGaAs層のCLスペクトルと比較してドーピングレベルを決定した。伝導帯における電子の占有,バンドギャップ狭まりやバンドの尾を考慮して全体スペクトルに一般化Planck則を適用した。電子のFermi準位を用いて自由電子濃度とドーピングレベルを推定した。CLを用いる方法はキャリア濃度の空間的不均一性のマッピングもできる。
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分類 (4件):
分類
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半導体のルミネセンス  ,  半導体薄膜  ,  塩  ,  物理化学一般その他 
タイトルに関連する用語 (4件):
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