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J-GLOBAL ID：201802224098533624   整理番号：18A0114405

TOF-SIMSにおける高エネルギー衝突誘起解離(HE-CID)の利用:明確なピーク同定とイメージングのために

Use of High Energy Collision Induced Dissociation (HE-CID) in TOF-SIMS for Unambiguous Peak Identification and Imaging

著者 (7件)： BRYAN S.R. (Physical Electronics, MN, USA) ,  FISHER G.L. (Physical Electronics, MN, USA) ,  LARSON P.E. (Physical Electronics, MN, USA) ,  HAMMOND J.S. (Physical Electronics, MN, USA) ,  HEEREN R.M.A. (Maastricht Univ., Maastricht, NLD) ,  IIDA S. (ULVAC-PHI, Kanagawa, JPN) ,  MIYAYAMA T. (ULVAC-PHI, Kanagawa, JPN)
資料名： Journal of Surface Analysis  (Journal of Surface Analysis)
巻： 24  号： 2  ページ： 167-169  発行年： 2017年12月21日 
JST資料番号： L3852A  ISSN： 1341-1756  CODEN： JSANFX  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *二次イオン質量分析 ,  *衝突誘起解離 ,  画像処理 ,  イオン
準シソーラス用語： *飛行時間二次イオン質量分析 ,  高エネルギーイオン

分類 (1件)： 電子ビーム・イオンビームの応用  (BD02070X)

引用文献 (5件)：

• [1]\tG. L. Fisher, J. S. Hammond, P. E. Larson, S. R. Bryan, and R. M. A. Heeren, J. Vac. Sci. Technol. B 34, 03H126 (2016).
• [2]\tG. L. Fisher, A. L. Bruinen, N. O. Potocnik, J. S. Hammond, S. R. Bryan, P. E. Larson, and R. M. A. Heeren, Anal. Chem., 88, 6433 (2016).
• [3]\tA. Carado, M. K. Passarelli, J. Kozole, J. E. Wingate, N. Winograd, Anal. Chem., 80, 7921 (2008).
• [4]\tR. Hill, P. Blenkinsopp, S. Thompson, J. Vickerman, and J. S. Fletcher, Surf. Interface Anal., 43, 506 (2011).
• [5]\tMALDI MS, A Practical Guide to Instrumentation, Methods, and Applications, ed. by F. Hillenkamp and J. Peter-Katalinic, Wiley-Blackwell (2014).

タイトルに関連する用語 (6件)： 高エネルギー ,  衝突誘起解離 ,  He ,  CID ,  同定 ,  イメージング