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J-GLOBAL ID：201802224828995092   整理番号：18A1046972

ミリ波移相器のオンチップ試験のための振動ベース試験技術【JST・京大機械翻訳】

An oscillation-based test technique for on-chip testing of mm-wave phase shifters

著者 (6件)： Margalef-Rovira M. (Univ. Grenoble Alpes, CNRS, Grenoble INP*, TIMA F-38000 Grenoble, France) ,  Barragan M. J. (Univ. Grenoble Alpes, CNRS, Grenoble INP*, TIMA F-38000 Grenoble, France) ,  Sharma E. (Univ. Grenoble Alpes, CNRS, IMEP-LAHC, F-38000 Grenoble, France) ,  Ferrari P. (Univ. Grenoble Alpes, CNRS, Grenoble INP*, TIMA F-38000 Grenoble, France) ,  Pistono E. (Univ. Grenoble Alpes, CNRS, IMEP-LAHC, F-38000 Grenoble, France) ,  Bourdel S. (Univ. Grenoble Alpes, CNRS, IMEP-LAHC, F-38000 Grenoble, France)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2018  号： VTS  ページ： 1-6  発行年： 2018年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： フェイズドアレイを用いたビーム成形技術は,将来の高データレート点間通信プロトコルの実用化のための最も有望な解決策の一つである。フェーズドアレイの機能性は,アレイの異なる経路間の正確で制御可能な位相差を提供する位相シフタの使用に基づいている。しかしながら,現在のナノメータ技術における移相器の集積は,意図された位相シフトに影響を及ぼす可能性があり,アンテナアレイの性能を劣化させる可能性がある。これは広範な試験と較正を必要とし,これらのシステムの生産ラインにおけるボトルネックを表す。本研究では,位相シフタの自己試験応用に適した簡単な振動ベース試験技術を提案した。この技術を,55nm BiCMOS技術で実装した反射型位相シフタで実証した。電磁および電気シミュレーション結果は,提案した技術の実現可能性を示した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *移相器 ,  ビーム成形 ,  位相シフト ,  BiCMOS ,  シミュレーション ,  生産ライン ,  アレイアンテナ ,  フェイズドアレイ
準シソーラス用語： ナノメータ ,  位相差 ,  機能性 ,  通信プロトコル ,  データレート ,  *オンチップ ,  *ミリ波移相器 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： アンテナ  (ND06000M)

タイトルに関連する用語 (3件)： ミリ波移相器 ,  オンチップ ,  試験