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J-GLOBAL ID:201802225152572693   整理番号:18A1042814

光熱検出を用いた異方性二次元材料の結晶方位の高精度測定【JST・京大機械翻訳】

High-accuracy measurement of the crystalline orientation of anisotropic two-dimensional materials using photothermal detection
著者 (6件):
資料名:
巻:号: 22  ページ: 5849-5856  発行年: 2018年 
JST資料番号: W2383A  ISSN: 2050-7526  CODEN: JMCCCX  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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黒リン(BP)およびレニウム二硫化物(ReS_2)のような異方性二次元材料は,薄膜偏光子または偏光敏感光検出器のような先進的応用のために調整できる本質的面内異方性特性を有する。これらの材料を適用する前に,結晶方位を正確に決定する必要がある。しかし,反射や透過スペクトル,偏光Raman関連技術などの結晶方位を測定するための現在の方法は,複雑な干渉,試料の厚さ,バックグラウンド信号のために,著しい不確実性と信頼性を被り,特に透明基板上で強い。ここでは,初めて,透明基板上のBPとReS_2の結晶配向の同定のための,新しい高精度とバックグラウンドフリー法,光熱検出(PTD)を示した。PTDは屈折率センシング光学技術であり,変調ポンプビームはBPまたはReS_2により吸収され,光熱媒質の屈折率の局所変化をもたらす。異なる波長におけるプローブビームの伝搬を,屈折率の周期的変化により修正した。PTDは結晶配向を明確に正確に同定するために利用できる。ポンプビームの異方性光吸収と液体媒質の加熱により発生する信号を考慮して,PTDは励起波長と試料厚さに関係なくバックグラウンド干渉を持たない。ポンプビームの偏光角と光熱信号の強度の間の関係を分析することによって,結晶配向を正確に識別することができた。したがって,PTDは絶縁性および粗い表面を含む透明基板に関連する典型的な課題を克服し,結晶配向の明確な同定を可能にする。Copyright 2018 Royal Society of Chemistry All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【JST・京大機械翻訳】
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分類 (4件):
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光物性一般  ,  塩  ,  高分子固体の物理的性質  ,  塩基,金属酸化物 
タイトルに関連する用語 (2件):
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