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J-GLOBAL ID：201802226705364637   整理番号：18A1034682

小面積半導体試料のための球ベース反射率測定の統合【JST・京大機械翻訳】

Integrating sphere based reflectance measurements for small-area semiconductor samples

著者 (3件)： Saylan S. (Masdar Institute, Khalifa University of Science and Technology, Abu Dhabi, United Arab Emirates) ,  Howells C. T. (Masdar Institute, Khalifa University of Science and Technology, Abu Dhabi, United Arab Emirates) ,  Dahlem M. S. (Masdar Institute, Khalifa University of Science and Technology, Abu Dhabi, United Arab Emirates)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 89  号： 5  ページ： 053101-053101-5  発行年： 2018年 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,付加的な光学素子を使用せずに,積分球を用いた小半導体試料の反射分光法を可能にする方法について述べた。安価な試料ホルダを用いて,2-,3-および4.5-mm径開口を通して異なる試料の反射率を測定し,保持器の照明によって引き起こされた測定スペクトルからバイアスを除去するための数学的定式化を適用した。提案した方法を用いて,高価または希少材料および/または低スループット過程を用いて作製した試料の反射率を測定することができた。それはまた,小面積,研究レベル太陽電池の内部量子効率を推論するために組み込むことができる。さらに,大きな角度で光を反射し,散乱を発展させる小さな試料も,指向性に鈍感な積分球により,信頼性良く測定できる。(翻訳著者抄録)【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： スペクトル ,  積分球 ,  指向性 ,  信頼性 ,  *半導体 ,  開口 ,  *反射率 ,  太陽電池 ,  光学素子 ,  スループット ,  定式化
準シソーラス用語： 内部量子効率 ,  低価格 ,  反射分光法 ,  *反射率測定 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 測光と光検出器一般  (BD07031F)

タイトルに関連する用語 (5件)： 面積 ,  試料 ,  球 ,  反射率測定 ,  統合