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J-GLOBAL ID:201802227268864175   整理番号:18A2111882

マグネトロンスパッタリングにより作製したトポロジカル絶縁体Bi_2Se_3薄膜の形態と電気輸送特性に及ぼすスパッタリングパワーと圧力の影響【JST・京大機械翻訳】

The effect of sputtering power and pressure on the morphology and electrical transport properties of topological insulator Bi2Se3 thin films prepared by magnetron sputtering
著者 (7件):
資料名:
巻: 32  号: 16  ページ: 1850195  発行年: 2018年 
JST資料番号: T0396A  ISSN: 0217-9792  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: シンガポール (SGP)  言語: 英語 (EN)
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薄膜のエピタキシャル成長は,トポロジカル絶縁体(TI)Bi_2Se_3に対するバルクキャリアの寄与を最小化する有効な方法である。調製過程で使用されるパラメータは,特にTI膜に対して高品質薄膜を成長させるための重要な因子である。本論文では,Si(100)基板上にBi_2Se_3薄膜を成長させるためにマグネトロンスパッタリングを用いた。異なる作動圧力とスパッタリングパワーを調べた。比較的低い圧力と低いパワーの下で高品質の膜を得ることができた。線形及び非飽和高磁場線形磁気抵抗(LMR)を高品質膜で観測した。Copyright 2018 World Scientific Publishing Company All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (3件):
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半導体薄膜  ,  その他の無機化合物の薄膜  ,  その他の無機化合物の磁性 

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