文献

J-GLOBAL ID：201802228056876222   整理番号：18A1941269

圧電応答力顕微鏡におけるプローブチップの有効点電荷【JST・京大機械翻訳】

The effective point charge of probe tip in piezoresponse force microscopy

著者 (5件)： Ming W. J. (Key Laboratory of Low Dimensional Materials and Application Technology of Ministry of Education, School of Materials Science and Engineering, Xiangtan University, Hunan 411105, China) ,  Zhu R. K. (Key Laboratory of Low Dimensional Materials and Application Technology of Ministry of Education, School of Materials Science and Engineering, Xiangtan University, Hunan 411105, China) ,  Pan K. (Key Laboratory of Low Dimensional Materials and Application Technology of Ministry of Education, School of Materials Science and Engineering, Xiangtan University, Hunan 411105, China) ,  Liu Y. Y. (Key Laboratory of Low Dimensional Materials and Application Technology of Ministry of Education, School of Materials Science and Engineering, Xiangtan University, Hunan 411105, China) ,  Lei C. H. (Department of Aerospace and Mechanical Engineering, Saint Louis University, St. Louis, Missouri 6310-1110, USA)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 124  号： 15  ページ： 154106-154106-11  発行年： 2018年 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： プローブ頂点の研磨は圧電応答力顕微鏡(PFM)実験中に常に起こり,圧電材料中の電気弾性場分布の変化をもたらし,最後にPFMの空間分解能に影響する。本論文では,完全結合電気機械法により,修正点電荷モデル,球平面モデル,ディスク平面モデルを含む三つのプローブモデルに対する圧電係数と結合した有効点電荷を見出した。プローブ先端の摩耗は接触領域から周囲領域への電気弾性場の広がりを誘起し,結合法を用いて計算した電気弾性場は分離法により計算したものよりもはるかに局所化されることを証明した。プローブ頂点の下の圧電応答はプローブの形状と相関しないが,計算法の選択に強く依存する。この解析は強誘電体材料の複雑な分域構造における圧電応答の研究に新しい道を開く。Copyright 2018 AIP Publishing LLC All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 電気機械 ,  *点電荷 ,  圧電材料 ,  *プローブ ,  空間分解能 ,  分域構造 ,  円板
準シソーラス用語： 強誘電体材料 ,  *圧電応答 ,  局在化 ,  圧電定数 ,  電気弾性 ,  プローブチップ ,  *圧電応答力顕微鏡 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 強誘電体,反強誘電体,強弾性  (BM05030B)

タイトルに関連する用語 (3件)： 圧電応答力顕微鏡 ,  プローブチップ ,  点電荷