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J-GLOBAL ID：201802228215802517   整理番号：18A0030485

表面上の物体の走査型プローブ顕微鏡像粒分析のための汎用アルゴリズム【Powered by NICT】

Universal algorithm for scanning probe microscopy images grain analysis of objects on the surface

著者 (4件)： Balagan Semyon (Institute of Automation and Control Processes FEB RAS Vladivostok, Russia) ,  Chusovitin Evgeniy (Institute of Automation and Control Processes FEB RAS Vladivostok, Russia) ,  Goroshko Dmitry (Institute of Automation and Control Processes FEB RAS Vladivostok, Russia) ,  Goroshko Olga (Vladivostok State University Economics and Service Vladivostok, Russia)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： RPC  ページ： 19-24  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 現在,走査型プローブ顕微鏡(SPM)は表面データを得るために用いている。多数の画像は表面上の粒子の地形パラメータの高速で高精度の計算を必要とする。局所最大を見出すことに基づく元の結晶粒解析アルゴリズムはSPM画像表面のトポグラフィーを形成する点のアレイを分類することにより実現した。表面(高さ,横寸法,面積,体積など)に位置する物体の種々の地形特性を決定するために提供するCopyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 画像 ,  結晶粒 ,  高速度 ,  *アルゴリズム ,  *走査型プローブ顕微鏡
準シソーラス用語： 解析アルゴリズム ,  高精度 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (5件)： 物体 ,  走査型プローブ顕微鏡 ,  分析 ,  汎用 ,  アルゴリズム