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J-GLOBAL ID：201802230755949568   整理番号：18A1333471

酸化セリウムの還元過程に関するXAFS分析

XAFS Analysis on Reduction Process of Cerium Oxide

著者 (6件)： UKAWA Takashi (Ritsumeikan Univ., Kusatsu, JPN) ,  NISHIDE Kaho (Ritsumeikan Univ., Kusatsu, JPN) ,  YAMAMOTO Yusaku (Ritsumeikan Univ., Kusatsu, JPN) ,  YAMASHITA Shohei (High Energy Accelerator Res. Organization, Tsukuba, JPN) ,  KATAYAMA Misaki (Ritsumeikan Univ., Kusatsu, JPN) ,  INADA Yasuhiro (Ritsumeikan Univ., Kusatsu, JPN)
資料名： Memoirs of the SR Center, Ritsumeikan University  (Memoirs of the SR Center, Ritsumeikan University)
号： 20  ページ： 5-8  発行年： 2018年05月 
JST資料番号： L4610A  ISSN： 1345-1650  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： X線吸収微細構造(XAFS)分光法とX線回折(XRD)法により,H₂雰囲気下での温度プログラム還元(TPR)過程におけるセリウム種を特性化した。その場XAFS測定は,CeO₂種が,550~750°Cの温度範囲で発生した中間状態で,900°Cで最終的にCe₂O₃に還元されたことを明らかにした。X線吸収端構造(XANES)スペクトルの吸収端シフトは,非化学量論化合物が中間種として形成され,推定組成がCeO_1.65であることを示した。TPRプロセスの間のその場XRD測定は,400°C以上でCeO₂の回折線のシフトを示し,非化学量論的中間体の形成を示した。格子定数の定量分析は,非化学量論中間体の(111)面に対する結晶面間隔が,初期CeO₂相より約0.03Å拡大することを示した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *酸化セリウム ,  *還元 ,  *XAFS ,  *X線回折 ,  雰囲気 ,  *中間状態 ,  *非化学量論 ,  化学組成 ,  格子定数 ,  面間隔
準シソーラス用語： 水素雰囲気 ,  格子面間隔

分類 (2件)： 金属酸化物及び金属カルコゲン化物の結晶構造  (BK07020Y) ,  X線スペクトル一般  (BM08101P)

タイトルに関連する用語 (5件)： 酸化セリウム ,  還元 ,  過程 ,  XAFS ,  分析