フォールトツリー解析によるオンチップ配線における深刻な故障事象の調査

YOKOGAWA Shinji; KUNII Kyousuke

文献

J-GLOBAL ID：201802230918703013 整理番号：18A1520338

フォールトツリー解析によるオンチップ配線における深刻な故障事象の調査

Survey of critical failure events in on-chip interconnect by fault tree analysis

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資料名：
巻： 57 号： 7S2 ページ： 07MG01.1-07MG01.7 発行年： 2018年07月
JST資料番号： G0520B ISSN： 0021-4922 CODEN： JJAPB6 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：イギリス (GBR) 言語：英語 (EN)

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固体デバイス計測・試験・信頼性

引用文献 (37件)：

C. A. Ericson, II, Proc. 17th System Safety Conf., 1999.
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