抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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大規模プロジェクトにおける広範な試験は,時間にわたる超線形成長による多大な試験コストをもたらすことができる。研究者はこの問題に取り組むいくつかの技術を提案した。しかし,大規模産業ソフトウェアプロジェクトにおける試験コスト成長の漸近挙動に及ぼすこれらの技術の実用的影響は,ほとんど特性化されていない。大規模産業プロジェクト,SAP HANAに対する試験実行のための固定時間予算を導入し解析した。著者らのアプローチは,いくつかの要素にグローバルな固定時間予算を割り当てる。各構成要素は,その予算内で試験を実行することができ,それは他の構成要素からの移動によってのみ変化することができる。これは,各試験に対する試験実行数を一定に制限し,試験コストの漸近成長を低減する。予算移動と試験最適化は,価値とコストの間のバランスをとり,その結果,テストケース選択と削減のための経済環境を作り出す。具体的には,これは不要な試験を除去し,試験実行時間を最適化するための動機を作る。SAP HANAに対して,著者らのアプローチは,効果的なテストケースの選択と削減をもたらし,品質に対する無視できる影響で,4か月で105年間,テスト実行時間を短縮した。実行時間節約と故障検出の間のトレードオフは故障当たり1.83年である。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】