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J-GLOBAL ID:201802231507217905   整理番号:18A2042346

6.5kV SiC MOSFETに適用したロバストエッジ終端の研究【JST・京大機械翻訳】

Investigation of the Robust Edge Termination Applied to 6.5kV SiC MOSFET
著者 (8件):
資料名:
巻: 924  ページ: 778-781  発行年: 2018年 
JST資料番号: D0716B  ISSN: 0255-5476  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: スイス (CHE)  言語: 英語 (EN)
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SiCパワーデバイスでは,高い絶縁破壊電圧と小さいサイズのエッジ終端が必要である。6.5kV MOSFETをターゲットとする種々のエッジ終端の逆バイアス特性をシミュレートし,FLRはサイズと注入Al線量の間の最良のトレードオフを示した。FLRを用いた作製したpnダイオードTEGは6.5kV以上の破壊電圧を示した。光放出により可視的にアバランシェ破壊を観測し,シミュレートした電場に対応した。これらは6.5kV MOSFETに対して望ましいFLRを作製できることを示した。Copyright 2018 Trans Tech Publications Ltd. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
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トランジスタ  ,  ダイオード 
タイトルに関連する用語 (4件):
タイトルに関連する用語
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