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J-GLOBAL ID：201802232052392041   整理番号：18A0187778

現場から寿命記憶信頼性データ【Powered by NICT】

Lifetime memory reliability data from the field

著者 (8件)： Siddiqua Taniya (RAS Architecture, Advanced Micro Devices, Inc.) ,  Sridharan Vilas (RAS Architecture, Advanced Micro Devices, Inc.) ,  Raasch Steven E. (AMD Research) ,  DeBardeleben Nathan (Ultrascale Systems Research Center, Los Alamos National Laboratory) ,  Ferreira Kurt B. (Center for Computing Research, Sandia National Laboratories) ,  Levy Scott (Center for Computing Research, Sandia National Laboratories) ,  Baseman Elisabeth (Ultrascale Systems Research Center, Los Alamos National Laboratory) ,  Guan Qiang (Ultrascale Systems Research Center, Los Alamos National Laboratory)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： DFT  ページ： 1-6  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高システムの回復力を提供するために,現場で発生する欠陥の性質を理解することが重要である。本研究は五年間監視した生産システムからの故障率を解析し,システムの全動作寿命のデータを捉えた。データは,このシステムにおける装置はモニタリング期間の間の加齢の兆候を示し,システムの寿命は五年以上であることが示唆されたことを示した。DRAMでは,故障モードの相対的発生率は,システムの寿命にわたって著しく変化しシステムの寿命の終わりに各故障モードの相対速度は,最初の年の間に観察された速度の1.4%以内であった。システムにおけるSRAMキャッシュはキャッシュ方法断層と単一ビット故障を含む異なる故障モードを示した。全体として,本研究はシステムの故障モードとタイプは,システムの寿命にわたって如何に発展するかに関する洞察を提供した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 故障 ,  故障率 ,  SRAM ,  DRAM ,  生産システム ,  故障モード ,  *信頼性 ,  キャッシュメモリ
準シソーラス用語： 発生率 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 信頼性  (KB04040H)

タイトルに関連する用語 (2件)： 現場 ,  寿命