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J-GLOBAL ID：201802232858965193   整理番号：18A2207253

共焦点X線回折による材料の深さ分布の非破壊解析

Nondestructive Analysis of Depth Distribution of Materials by Confocal X-ray Diffraction

著者 (4件)： Eba Hiromi (Department of Chemistry and Energy Engineering, Faculty and Graduate School of Engineering, Tokyo City University) ,  Nakamachi Ryuji (Department of Chemistry and Energy Engineering, Faculty and Graduate School of Engineering, Tokyo City University) ,  Kitakubo Yoshihito (Department of Chemistry and Energy Engineering, Faculty and Graduate School of Engineering, Tokyo City University) ,  Awaji Satsuki (Department of Chemistry and Energy Engineering, Faculty and Graduate School of Engineering, Tokyo City University)
資料名： Chemistry Letters  (Chemistry Letters)
巻： 47  号： 12  ページ： 1545-1548(J-STAGE)  発行年： 2018年 
JST資料番号： S0742A  ISSN： 0366-7022  CODEN： CMLTAG  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 材料内部の結晶相の深さ分布を調べることができる共焦点X線回折計を開発した。入射X線のポリキャピラリーと共焦点を維持しながら,散乱X線を受信する多毛細管集束光学素子を走査することにより,回折を測定した。各構成材料の厚さと深さに対応する情報を得て,材料の表面と内部を区別し,材料の深さに依存する化学変化を観察することができた。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *X線回折 ,  *焦点 ,  *深さ分布 ,  非破壊測定 ,  X線散乱 ,  毛細管 ,  光学素子 ,  集束 ,  化学反応 ,  *結晶構造 ,  空間分布 ,  化学組成
準シソーラス用語： ナノ結晶構造 ,  化学変化 ,  *共焦点 ,  深さ依存性 ,  超音波集束

著者キーワード (3件)： X線回折 ,  結晶相 ,  マッピング

分類 (1件)： X線回折法  (BK01020I)

引用文献 (11件)：

• 1) Y. Gohshi, S. Aoki, A. Iida, S. Hayakawa, H. Yamaji, K. Sakurai, Jpn. J. Appl. Phys. 1987, 26, L1260.
• 2) N. Gao, K. Janssens, in X-Ray Spectrometry: Recent Technological Advances, ed. by K. Tsuji, J. Injuk, R. V. Grieken, John Wiley & Sons, Ltd., Chichester, 2004, Ch. 3, pp. 89-110. doi:10.1002/0470020431.ch3.
• 3) M. A. Kumakhov, X-Ray Spectrom. 2000, 29, 343.
• 4) B. Kanngießer, W. Malzer, I. Reiche, Nucl. Instrum. Methods Phys. Res., Sect. B 2003, 211, 259.
• 5) L. Vincze, B. Vekemans, F. E. Brenker, G. Falkenberg, K. Rickers, A. Somogyi, M. Kersten, F. Adams, Anal. Chem. 2004, 76, 6786.

タイトルに関連する用語 (4件)： 共焦点 ,  X線回折 ,  深さ分布 ,  破壊解析