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J-GLOBAL ID:201802233403139195   整理番号:18A2204453

ITER-TFコイル用Nb3Sn素線のIc値における熱処理擾乱の影響

著者 (8件):
資料名:
巻: 97th  ページ: 128  発行年: 2018年11月19日 
JST資料番号: G0564B  ISSN: 0919-5998  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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ITER TFコイルのダブルパンケーキ(DP)熱処理では,素線サンプルをDP近傍に設置し,同時熱処理した後,その素線サンプルの臨界電流値(Ic)を測定することで,熱処理の健全性を確認している。これまでに,43体のDP熱処理を完了しており,その全てにおいて,熱処理が健全であることを確認している。一方,熱処理中に停電等によって操炉が停止すると,導体性能が劣化するリスクがある。特に,内部拡散法のNb3Sn素線では,このような温度擾乱が発生すると,その性能が劣化すると考えられているため,停電時用の予備電源を備えている。しかし,このような対策を実施しても,何かしらの温度擾乱が発生すれば,導体性能が劣化する可能性があるため,リスクは残る。そこで,本研究では,ITER TF素線を用いて,様々な温度擾乱を模擬して熱処理した素線サンプルのIc試験を実施し,その影響を調査したので,報告する。(著者抄録)
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分類 (2件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
核融合装置  ,  超伝導材料 

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