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J-GLOBAL ID：201802233845746498   整理番号：18A0335894

多結晶ニッケルナノ細線のミクロ磁気シミュレーションのための現実的なデータソースとしての透過型電子顕微鏡観察【Powered by NICT】

Transmission electron microscopy as a realistic data source for the micromagnetic simulation of polycrystalline nickel nanowires

著者 (6件)： Franca C.A. (Pos-Graduacao em Ciencia de Materiais, Universidade Federal de Pernambuco, Recife, PE 50670-901, Brazil) ,  Guerra Y. (Pos-Graduacao em Ciencia de Materiais, Universidade Federal de Pernambuco, Recife, PE 50670-901, Brazil) ,  Valadao D.R.B. (Universidade Federal de Lavras, Lavras, MG 37200-000, Brazil) ,  Holanda J. (Departamento de Fisica, Universidade Federal de Pernambuco, Recife, PE 50670-901, Brazil) ,  Padron-Hernandez E. (Departamento de Fisica, Universidade Federal de Pernambuco, Recife, PE 50670-901, Brazil) ,  Padron-Hernandez E. (Pos-Graduacao em Ciencia de Materiais, Universidade Federal de Pernambuco, Recife, PE 50670-901, Brazil)
資料名： Computational Materials Science  (Computational Materials Science)
巻： 128  ページ： 42-44  発行年： 2017年 
JST資料番号： W0443A  ISSN： 0927-0256  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 透過型電子顕微鏡データは,電着したニッケルナノワイヤのマイクロマグネティックシミュレーションで提案したモデルの出発点として使用した。暗視野像解析を用いて堆積したナノワイヤのための実在結晶フォーマットを提案し,示唆されたフォーマットは,NMAGを用いた数値モデルにおける有限要素ネットワークの発生のために使用した。分解方程式は,外部磁場の印加の角度による保磁力磁場依存性を生成した。同じ分析は,残留磁化データに対して行い,実験結果と比較した。著者らの結果は,現実的なモデルを用いた磁気研究における電子顕微鏡分析の顕著な重要性を示した。磁気ナノワイヤにおける磁気モーメントの復帰の問題は未解決の問題であり,著者らの提案は,復帰の研究は,ナノワイヤの実際の微細構造の以前の顕微鏡解析で始まる必要ということである。Copyright 2018 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 残留磁化 ,  *シミュレーション ,  *透過型電子顕微鏡 ,  画像分析 ,  磁気モーメント ,  外部磁場 ,  *顕微鏡 ,  電着 ,  *ナノワイヤ ,  保磁力 ,  *磁気 ,  *ニッケル ,  *多結晶
準シソーラス用語： 磁場依存性 ,  マイクロマグネティックシミュレーション , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 磁気ナノワイヤ ,  マイクロマグネティックシミュレーション ,  Coercivity ,  残留磁化 ,  透過型電子顕微鏡観察

分類 (1件)： 金属結晶の磁性  (BM06040T)

タイトルに関連する用語 (8件)： 多結晶 ,  ニッケル ,  ナノ細線 ,  磁気 ,  シミュレーション ,  現実 ,  ソース ,  透過型電子顕微鏡観察