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J-GLOBAL ID:201802234371614482   整理番号:18A1913785

プローブ顕微鏡における探針先端の幾何学的形状と非弾性電子トンネル分光における信号強度の関係

Relationship between the Geometrical Structure of a Tip Apex of a Scanning Probe Microscope and the Intensity of the Signal in Inelastic Electron Tunneling Spectroscopy
著者 (7件):
資料名:
巻: 61  号: 10  ページ: 651-656(J-STAGE)  発行年: 2018年 
JST資料番号: G0194B  ISSN: 2433-5835  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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走査型トンネル顕微鏡と非弾性電子トンネル分光法(STM-IETS)を組み合わせることにより,原子スケールの空間分解能で表面上の分子の振動を調べることができる。しかしながら,IETSの強度は各チップに強く依存することが知られていた。ここでは,原子間力顕微鏡法(AFM)を用いてチップ頂点の幾何学的構造を特徴づけ,Cu(111)表面上のCO分子に対しチップ頂点形状依存IETSを調べた。本研究では,金属製チップの場合,CO分子を通過する電流とバイパス電流の比がIETSの強度を決定する重要な要因であることを実証した。(翻訳著者抄録)
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分類 (2件):
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金属の表面構造  ,  界面の電気的性質一般 
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