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J-GLOBAL ID：201802234486181750   整理番号：18A0588721

RF MEMS不均一試験放射線技術のイミュニティ試験【Powered by NICT】

Immunity test of RF MEMS of non uniform test radiation techniques

著者 (4件)： Jmai Bassem (Department of Physics, High Frequencies Electronics Circuit and System Research Unit, FST, University Tunis El Manar, Tunis, Tunisia) ,  Mendes Paulo (Department of Industrial Electronics, Microelectromechanical Systems Research Center, University of Minho, Guimaraes, Portugal) ,  Rajhi Adnen (Laboratory of physics Soft materials & EM modelisation, FST, University Tunis El Manar, Tunis, Tunisia) ,  Gharsallah Ali (Department of Physics, FST, Unit of Research in High Frequency Electronic Circuit and System, University Tunis El Manar, Tunis, Tunisia)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： STA  ページ： 115-119  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,近接場の項における放射線技術のイミュニティ試験を提示した。提案した試験の電磁側面のシミュレーション結果は,有限積分法(FIT)法に基づく市販のソフトウェア計算機シミュレーション技術マイクロ波スタジオ(CST MWS)により与えられる。イミュニティ試験の結果は,1と40GHzの間の周波数範囲で両状態(オフ及びオンスイッチ)で行った。この試験用に処理したパラメータは,挿入損失,反射減衰量,E場とH場である。RF MEMS容量のためのイミュニティ試験のシミュレーション結果は,電気プローブの異なる位置で与えられる。得られた結果は,成分の免疫は波長λ,周波数f,電場プローブの位置と成分の状態に応じたであることを示した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 電場 ,  計算機シミュレーション ,  ソフトウェア ,  波長 ,  シミュレーション ,  挿入損 ,  周波数 ,  マイクロ波 ,  近接場 ,  *プローブ
準シソーラス用語： 反射減衰量 ,  有限積分法 ,  *イミュニティ試験 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： アンテナ  (ND06000M) ,  固体デバイス製造技術一般  (NC03030V) ,  継電器・スイッチ  (NA05060K)

タイトルに関連する用語 (6件)： RF ,  MEMS ,  不均一 ,  試験 ,  放射線技術 ,  イミュニティ試験