文献

J-GLOBAL ID：201802236319539713   整理番号：18A1301021

Read:非対称SER分布を利用した3Dメモリにおける信頼性強化【JST・京大機械翻訳】

READ: Reliability Enhancement in 3D-Memory Exploiting Asymmetric SER Distribution

著者 (3件)： Han Hyunseung (Memory Division, Samsung Electronics Hwaseong Site, Hwaseong, Gyeonggi-do, Korea) ,  Chung Jaeyong (Electronic Engineering, Incheon National University, Incheon, Korea) ,  Yang Joon-Sung (Department of Semiconductor Systems Engineering, Sungkyunkwan University - Suwon Campus, Suwon, Gyeonggi-do, Korea)
資料名： IEEE Transactions on Computers  (IEEE Transactions on Computers)
巻： 67  号： 8  ページ： 1193-1201  発行年： 2018年 
JST資料番号： C0233A  ISSN： 0018-9340  CODEN： ICTOB4  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 3Dメモリは3D-IC技術における有望な応用の一つである。3D集積技術により,メモリの有効密度を増加させ,プロセッサからメモリへの相互接続距離を短縮できる。その積層構造により,上部ダイスは,より低いダイスに達することから外部粒子を遮蔽するシールドとして振舞い,そして,それは,すべての層の間で最大層の誤差率を最大にした。熱展望から,より低い金型は,より低い金型が論理金型の上に置かれるので,信頼性問題を被る。熱放散は,上部金型より低い金型により影響を及ぼすことができる。これは3Dメモリにおける各層の信頼性分布を不均等にする。本論文では,ソフトエラー率(SER)プロファイルの下で信頼できる操作を確保するための3Dメモリのための新しいECC組織化方式を紹介した。提案した方式は追加の冗長アレイを必要としない。代わりに,それは比較的信頼できる層メモリの未使用の予備カラムを利用して,より信頼できない層メモリの追加チェックビットを保存する。それは,より信頼できない層でECC能力を強化する異なる層を横切る不均一ECC組織を形成する。さらに,提案方式により,収率向上のための冗長性共有方式を実装することができる。実験結果は,提案方法によるメモリが,従来のメモリと比較して,ビット誤り率の3倍以上に耐えることができることを示した。Copyright 2018 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 冗長性 ,  演算プロセッサ ,  *信頼性 ,  積層構造 ,  *記憶装置 ,  相互接続 ,  熱放射 ,  *三次元 ,  *非対称性
準シソーラス用語： ビット誤り率 ,  ソフトエラー率 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (4件)： オペレーティングシステム  (JD03020J) ,  記憶方式  (JC02040V) ,  制御方式  (JC02030K) ,  記憶装置  (JC04060F)

タイトルに関連する用語 (5件)： 非対称 ,  SER ,  分布 ,  3D ,  強化