文献

J-GLOBAL ID：201802238138753751   整理番号：18A2052152

相対論的電子パルスを用いた超高速電子顕微鏡観察

Ultrafast electron microscopy with relativistic femtosecond electron pulses

著者 (3件)： YANG Jinfeng (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  YOSHIDA Yoichi (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  YASUDA Hidehiro (Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名： Microscopy  (Microscopy)
巻： 67  号： 5  ページ： 291-295  発行年： 2018年10月 
JST資料番号： W1384A  ISSN： 2050-5698  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ・Sバンド高周波加速に基づく約100フェムト秒パルス幅のTi:Sapphireレーザー誘起の光電子放出銃からの相対論的フェムト秒電子パルスを用いたプロトタイプの超高速電子顕微鏡を開発。
・運動エネルギー3.1MeV,パルス幅約100fsの電子パルスを用いたポリスチレンラテックス粒子と金ナノ粒子のTEM像を観測。
・TEM像に対する電子パルスのエミッタンスとパルス数の影響を調べ,フェムト秒電子パルスの単一パルス照射による倍率約500倍のイメージングが可能なことを実証。

シソーラス用語： *相対論的電子ビーム ,  *パルス ,  *電子顕微鏡観察 ,  ポリスチレン ,  ラテックス ,  微粒子 ,  ナノ粒子
準シソーラス用語： *フェムト秒パルス ,  ポリスチレンラテックス ,  ポリマ微粒子 ,  金ナノ粒子 ,  *電子パルス

分類 (1件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (3件)： 相対論的電子 ,  パルス ,  電子顕微鏡観察